KAST教育講座「走査型プローブ顕微鏡の最新活用術～今こそ使いどき、もうひとつのナノテク基盤技術～」

2014年08月22日 会合

主催：公益財団法人神奈川科学技術アカデミー
後援：一般社団法人日本生物物理学会ほか


日時：2014年2月13日（金）09:45～17:15
場所：かながわサイエンスパーク（KSP）内研修室
　　（川崎市高津区坂戸３－２－１）

募集人数：20名

申込締切：2015年1月23日（金）

受講料：20,000円

講師：
　東京大学 生産技術研究所 教授　高橋琢二氏
　東北大学 原子分子材料科学高等研究機構　准教授　一杉太郎氏
　株式会社日産アーク 取締役 叶際平氏
　WITec 株式会社 代表取締役 中本圭一氏
　KAST 高度計測センター 技師　牛山幹夫、矢矧束穂

目的：
　本講座では、走査型プローブ顕微鏡（SPM）を特集します。微小領域観察の基礎、
　応用、先端研究のそれぞれの立場から今を論じ、材料の評価・分析、改良、開発に
　おけるSPM の活用の今後を展望します。

　材料の評価・分析では、近年、透過型電子顕微鏡（TEM）や走査型電子顕微鏡（SEM）
　の活用が主流となっており、特にFIB 試料調製技術との併用による特定微小領域観察が
　著しい進歩を遂げています。一方、1980 年代初頭の走査型トンネル顕微鏡（STM）
　の発明に始まり、その後多様な進化を遂げているSPM ですが、最近では、電子顕微鏡
　とは異なる視点からの材料の評価・分析が、新たな展開を見せつつあります。

　講義では、まず、光学顕微鏡にはじまり、SEM やTEM によるナノレベル観察の現状を
　概観します。その上で、STM や原子間力顕微鏡（AFM）の基本を踏まえつつ、ナノレ
　ベルの物性評価において、近年多様化・高機能化・ハイブリッド化が著しく進む各種プ
　ローブ顕微鏡の活用の実際を詳しく解説します。

　日常的に材料と向き合い苦戦されている方はもちろん、SPM の活用を最新活用事例等
　から改めて考え直したい研究者・技術者にとって、本講座は大いに役立つものと期待し
　ます。

申込先・問合先：
　(公財) 神奈川科学技術アカデミー
　教育情報センター　教育研修グループ
　TEL : 044-819-2033　FAX : 044-819-2097
Email: ed(at)newkast.or.jp
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URL: http://www.newkast.or.jp/kyouiku/edu_h26/ed26_seminar_10.html