2013年12月27日 会合
主催:公益財団法人神奈川科学技術アカデミー(KAST)
後援:日本生物物理学会 ほか
日時:2014年2月21日(金)9:45〜17:15
場所:かながわサイエンスパーク(KSP)内 講義室
対象:
・材料(主に無機材料)の評価・分析や、次世代材料の研究・開発・製造に携わる研
究者・技術者。
・超微細領域の研究やSPM の活用に関心があり、これから情報収集を始めたいとお考
えの方。
・メーカー、ユーザーいずれの場合もご受講いただけます。
定員:20名
申込方法:本ページ最下部URLよりお申込みください。
申込締切:2014年2月4日(火)
受講料:18,000円(税込)
講師:
東京大学 生産技術研究所 教授 高橋 琢二 氏
東北大学 原子分子材料科学高等研究機構 准教授 一杉 太郎 氏
株式会社日産アーク 取締役 叶 際平 氏
WITec 株式会社 代表取締役 中本 圭一 氏
KAST 高度計測センター 技師 牛山 幹夫、矢矧 束穂
概要:
本講座では、走査型プローブ顕微鏡(SPM)を特集します。微小領域観察の基礎、
応用、先端研究のそれぞれの立場から今を論じ、材料の評価・分析、改良、開発に
おけるSPM の活用の今後を展望します。
材料の評価・分析では、近年、透過型電子顕微鏡(TEM)や走査型電子顕微鏡
(SEM)の活用が主流となっており、特にFIB 試料調製技術との併用による特定微
小領域観察が著しい進歩を遂げています。一方、1980 年代初頭の走査型トンネル
顕微鏡(STM)の発明に始まり、その後多様な進化を遂げているSPM ですが、最近
では、電子顕微鏡とは異なる視点からの材料の評価・分析が、新たな展開を見せつ
つあります。
講義では、まず、光学顕微鏡にはじまり、SEM やTEM によるナノレベル観察の現状
を概観します。その上で、STM や原子間力顕微鏡(AFM)の基本を踏まえつつ、ナ
ノレベルの物性評価において、近年多様化・高機能化・ハイブリッド化が著しく進む
各種プローブ顕微鏡の活用の実際を詳しく解説します。
日常的に材料と向き合い苦戦されている方はもちろん、SPM の活用を最新活用事例
等から改めて考え直したい研究者・技術者にとって、本講座は大いに役立つものと期
待します。
問合先:
公益財団法人神奈川科学技術アカデミー(KAST)
教育情報センター 教育研修グループ
TEL : 044-819-2033 FAX : 044-819-2097
Email: ed(at)newkast.or.jp
迷惑メール対策のため、メールアドレスの(at)を@に置き換えてください。 (Please use at sign instead of (at).)
URL: http://www.newkast.or.jp/kyouiku/edu_h25/ed25_seminar_22.html