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2014年08月22日 掲載 (Published 08/22/2014)


KAST教育講座「走査型プローブ顕微鏡の最新活用術~今こそ使いどき、もうひとつのナノテク基盤技術~」

主催:公益財団法人神奈川科学技術アカデミー
後援:一般社団法人日本生物物理学会ほか


日時:2014年2月13日(金)09:45~17:15
場所:かながわサイエンスパーク(KSP)内研修室
  (川崎市高津区坂戸3-2-1)

募集人数:20名

申込締切:2015年1月23日(金)

受講料:20,000円

講師:
 東京大学 生産技術研究所 教授 高橋琢二氏
 東北大学 原子分子材料科学高等研究機構 准教授 一杉太郎氏
 株式会社日産アーク 取締役 叶際平氏
 WITec 株式会社 代表取締役 中本圭一氏
 KAST 高度計測センター 技師 牛山幹夫、矢矧束穂

目的:
 本講座では、走査型プローブ顕微鏡(SPM)を特集します。微小領域観察の基礎、
 応用、先端研究のそれぞれの立場から今を論じ、材料の評価・分析、改良、開発に
 おけるSPM の活用の今後を展望します。

 材料の評価・分析では、近年、透過型電子顕微鏡(TEM)や走査型電子顕微鏡(SEM)
 の活用が主流となっており、特にFIB 試料調製技術との併用による特定微小領域観察が
 著しい進歩を遂げています。一方、1980 年代初頭の走査型トンネル顕微鏡(STM)
 の発明に始まり、その後多様な進化を遂げているSPM ですが、最近では、電子顕微鏡
 とは異なる視点からの材料の評価・分析が、新たな展開を見せつつあります。

 講義では、まず、光学顕微鏡にはじまり、SEM やTEM によるナノレベル観察の現状を
 概観します。その上で、STM や原子間力顕微鏡(AFM)の基本を踏まえつつ、ナノレ
 ベルの物性評価において、近年多様化・高機能化・ハイブリッド化が著しく進む各種プ
 ローブ顕微鏡の活用の実際を詳しく解説します。

 日常的に材料と向き合い苦戦されている方はもちろん、SPM の活用を最新活用事例等
 から改めて考え直したい研究者・技術者にとって、本講座は大いに役立つものと期待し
 ます。

申込先・問合先:
 (公財) 神奈川科学技術アカデミー
 教育情報センター 教育研修グループ
 TEL : 044-819-2033 FAX : 044-819-2097

email:ed(at)newkast.or.jp
迷惑メール対策のため、メールアドレスの(at)を@に置き換えてください。 (Please use at sign instead of (at).)
URL:http://www.newkast.or.jp/kyouiku/edu_h26/ed26_seminar_10.html