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2013年12月27日 掲載 (Published 12/27/2013)


走査型プローブ顕微鏡の最新活用術〜今こそ使いどき、もうひとつのナノテク基盤技術〜

主催:公益財団法人神奈川科学技術アカデミー(KAST)
後援:日本生物物理学会 ほか

日時:2014年2月21日(金)9:45〜17:15
場所:かながわサイエンスパーク(KSP)内 講義室

対象:
・材料(主に無機材料)の評価・分析や、次世代材料の研究・開発・製造に携わる研
 究者・技術者。
・超微細領域の研究やSPM の活用に関心があり、これから情報収集を始めたいとお考
 えの方。
・メーカー、ユーザーいずれの場合もご受講いただけます。

定員:20名

申込方法:本ページ最下部URLよりお申込みください。
申込締切:2014年2月4日(火)
受講料:18,000円(税込)

講師:
 東京大学 生産技術研究所 教授 高橋 琢二 氏
 東北大学 原子分子材料科学高等研究機構 准教授 一杉 太郎 氏
 株式会社日産アーク 取締役 叶 際平 氏
 WITec 株式会社 代表取締役 中本 圭一 氏
 KAST 高度計測センター 技師 牛山 幹夫、矢矧 束穂

概要:
 本講座では、走査型プローブ顕微鏡(SPM)を特集します。微小領域観察の基礎、
 応用、先端研究のそれぞれの立場から今を論じ、材料の評価・分析、改良、開発に
 おけるSPM の活用の今後を展望します。

 材料の評価・分析では、近年、透過型電子顕微鏡(TEM)や走査型電子顕微鏡
 (SEM)の活用が主流となっており、特にFIB 試料調製技術との併用による特定微
 小領域観察が著しい進歩を遂げています。一方、1980 年代初頭の走査型トンネル
 顕微鏡(STM)の発明に始まり、その後多様な進化を遂げているSPM ですが、最近
 では、電子顕微鏡とは異なる視点からの材料の評価・分析が、新たな展開を見せつ
 つあります。

 講義では、まず、光学顕微鏡にはじまり、SEM やTEM によるナノレベル観察の現状
 を概観します。その上で、STM や原子間力顕微鏡(AFM)の基本を踏まえつつ、ナ
 ノレベルの物性評価において、近年多様化・高機能化・ハイブリッド化が著しく進む
 各種プローブ顕微鏡の活用の実際を詳しく解説します。

 日常的に材料と向き合い苦戦されている方はもちろん、SPM の活用を最新活用事例
 等から改めて考え直したい研究者・技術者にとって、本講座は大いに役立つものと期
 待します。

問合先:
 公益財団法人神奈川科学技術アカデミー(KAST)
 教育情報センター 教育研修グループ
 TEL : 044-819-2033 FAX : 044-819-2097

email:ed(at)newkast.or.jp
迷惑メール対策のため、メールアドレスの(at)を@に置き換えてください。 (Please use at sign instead of (at).)
URL:http://www.newkast.or.jp/kyouiku/edu_h25/ed25_seminar_22.html