走査型プローブ顕微鏡の最新活用術〜今こそ使いどき、もうひとつのナノテク基盤技術〜

2013年12月27日 会合

主催：公益財団法人神奈川科学技術アカデミー（KAST）
後援：日本生物物理学会　ほか

日時：2014年2月21日（金）9：45〜17：15
場所：かながわサイエンスパーク（KSP）内 講義室

対象：
・材料（主に無機材料）の評価・分析や、次世代材料の研究・開発・製造に携わる研
　究者・技術者。
・超微細領域の研究やSPM の活用に関心があり、これから情報収集を始めたいとお考
　えの方。
・メーカー、ユーザーいずれの場合もご受講いただけます。

定員：20名

申込方法：本ページ最下部URLよりお申込みください。
申込締切：2014年2月4日（火）
受講料：18,000円（税込）

講師：
　東京大学 生産技術研究所 教授　高橋 琢二 氏
　東北大学 原子分子材料科学高等研究機構　准教授　一杉 太郎 氏
　株式会社日産アーク 取締役 叶 際平 氏
　WITec 株式会社 代表取締役 中本 圭一 氏
　KAST 高度計測センター 技師　牛山 幹夫、矢矧 束穂

概要：
　本講座では、走査型プローブ顕微鏡（SPM）を特集します。微小領域観察の基礎、
　応用、先端研究のそれぞれの立場から今を論じ、材料の評価・分析、改良、開発に
　おけるSPM の活用の今後を展望します。

　材料の評価・分析では、近年、透過型電子顕微鏡（TEM）や走査型電子顕微鏡
　（SEM）の活用が主流となっており、特にFIB 試料調製技術との併用による特定微
　小領域観察が著しい進歩を遂げています。一方、1980 年代初頭の走査型トンネル
　顕微鏡（STM）の発明に始まり、その後多様な進化を遂げているSPM ですが、最近
　では、電子顕微鏡とは異なる視点からの材料の評価・分析が、新たな展開を見せつ
　つあります。

　講義では、まず、光学顕微鏡にはじまり、SEM やTEM によるナノレベル観察の現状
　を概観します。その上で、STM や原子間力顕微鏡（AFM）の基本を踏まえつつ、ナ
　ノレベルの物性評価において、近年多様化・高機能化・ハイブリッド化が著しく進む
　各種プローブ顕微鏡の活用の実際を詳しく解説します。

　日常的に材料と向き合い苦戦されている方はもちろん、SPM の活用を最新活用事例
　等から改めて考え直したい研究者・技術者にとって、本講座は大いに役立つものと期
　待します。

問合先：
　公益財団法人神奈川科学技術アカデミー（KAST）
　教育情報センター　教育研修グループ
　TEL : 044-819-2033　FAX : 044-819-2097


Email:ed(at)newkast.or.jp
迷惑メール対策のため、メールアドレスの(at)を@に置き換えてください。 (Please use at sign instead of (at).)

URL:http://www.newkast.or.jp/kyouiku/edu_h25/ed25_seminar_22.html

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